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致茂Chroma 3260C 三溫系統(tǒng)板測試分類機 可靠的高速Pick & Place分類機 同步吸嘴雙取與雙放設計 浮動頭可有效率平衡測試壓力 IC殘留檢測功能 通用治具設計 Nitro TEC主動式溫控技術導入 支援Full Range （-40°C~125°C） 測試溫度 更快速的升降溫反應速度

致茂Chroma 3280Test-In-Tray 測試分類機 整合SD卡測試機與自動分類機功能 平行測試120個micro SD卡 Test-In-Tray UPH = 5400 （以70秒的測試時間為例） 支援SD卡資料通訊協(xié)定 支援DC參數(shù)量測功能 Microsoft Windows XP OS

致茂Chroma 3270微型 IC 測試分類機 適合 CMOS 影像感應組件量產(chǎn)需求 可靠的高速 Pick&Place 分類機 3x3 mm 微型 IC 處理能力 浮動頭可有效率平衡測試壓力 自動測試壓力學習 IC 殘留檢測功能